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詞條說明
XP-703D半導體特氣檢漏儀性能參數 ﹡較適合于檢測半導體特氣的微量泄漏。 ﹡采用聲光報警。 型號 XP-703D 檢測對象氣體 半導體材料氣體等) 檢測原理 線型半導體式 采樣方式 自動吸引式 可檢測濃度 (單位:ppm) AsH3 PH3 B2H6 SiH4 H2 0.2 0.3 0.1 0.5 1.0 檢測表示 蜂鳴器斷續鳴響及指示燈閃爍 應答速度 10秒以內
SRT-6200粗糙度儀1. 特性 該儀器采用計算機技術,符合標準GB/T 6062及ISO,DIN,ANSI和JIS四項標準,可以廣泛適用于生產現場,可測量多種機加工零件的表面粗糙度,根據選定的測量條件計算出相應的參數,在液晶顯示器上清晰地顯示出全部測量參數。測量工件表面粗糙度時,將傳感器放在工件被測面上,由儀器內部的驅動機構帶動傳感器沿被測表面做等速滑行,傳感器通過內置的銳利觸針感受被測表面
生鑄鐵分析儀器、球鐵分析儀、合金鑄鐵分析儀、鐵合金分析儀(多元素快速分析儀) WH-DYS2C型生鑄鐵分析儀器、球鐵分析儀、合金鑄鐵分析儀、鐵合金分析儀(多元素快速分析儀)是國內新型的一款多元素聯測快速分析儀,可檢測生鐵、鑄鐵、球鐵、合金鑄鐵、鐵合金等鐵材料中的C、S、Si、Mn、P、Cr、Ni、Mo、Cu、Ti、Mg、稀土等多種元素。萬合儀器公司專業生產各種分析儀器:生鐵分析儀、鑄鐵分析儀、球
AR63A便攜式測振儀 技術參數 測量方式 壓電陶瓷(剪切型) 加速度測量范圍 0.1~199.9m/s2 速度測量范圍 0.1~199.9m/s 位移測量范圍 0.001~1.999mm 加速度測量頻率 10HZ~1KHZ(LO) 1KHZ~15KHZ(HI) 速度測量頻率 10HZ~1KHZ 位移測量頻率 10HZ~1KHZ 測量誤差 ±10%H±2digits 數據輸出 AC信號輸出 自動
公司名: 南昌星楓儀器有限公司
聯系人: 黃經理
電 話: 0791-85226050
手 機: 15970662315
微 信: 15970662315
地 址: 江西南昌青云譜區南昌市青云譜區三點西路44號
郵 編: 330001
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