高低溫試驗箱/重慶溫度測試箱/重慶**低溫試驗箱/成都高低溫循環箱/成都溫度循環試驗箱/成都TC箱

時間：2016-12-14

作者：廣東宏展科技有限公司

詞條
詞條說明
判斷電容器壽命與溫度的相關性—10度法則
容器的壽命是一般電子產品壽命的較低要求，在高低溫試驗箱、高溫老化房等實驗設備作高低溫試驗和老化試驗的過程中溫度的影響可以以電容器耐溫程度為主。而10度法則是判斷電容器壽命與溫度之間的關系的一個基本的簡單原則。溫度是環境應力中經常的參數，通過高低溫試金箱、冷熱沖擊試驗箱、恒溫恒濕試驗箱等試驗設備得以實現。材料、產品或者元器件在試驗箱中通過電熱管加熱產生溫升，或者高溫（比如70℃，甚至150℃等），或
外貿出口訂單爆滿宏展演繹中國制造
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半導體芯片用高低溫濕熱試驗箱介紹
半導體芯片高低溫濕熱試驗箱（也稱為溫濕度循環試驗箱、恒溫恒濕試驗箱等）是一種專門用于對半導體芯片和電子元器件進行高溫、低溫和濕熱環境測試的設備。它可以模擬不同的環境條件，以評估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。試驗標準：GB/T 4937.42-2023 半導體器件機械和氣候試驗方法 *42部分：溫濕度貯存主要技術參數：溫度范圍： -20℃~100℃（150℃）、-40℃~100℃（
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