涂鍍層測厚儀的測量操作方法？

時間：2020-01-05

作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司

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【手持式光譜儀】火花直讀光譜儀和手持式光譜儀有哪些區別
火花直讀光譜儀和手持式光譜儀有哪些區別手持式光譜儀工作原理：當一束帶有足夠能量的X射線打在樣品表面原子殼內層的電子上，這個X射線束是由手持式光譜儀內的X射線管產生的，這個X射線束從手持式光譜儀前底端射出。X射線束打在樣品表面的原子殼上，電子被激發后從原子殼內層軌道發生位移，這種位移的發生是由于從分析儀發出的X-射線束與在適當的軌道保持電子結合能發出的能量差；當X射線束的能量**電子結合能就會發生位
天瑞儀器優勢
在分析儀器領域中，天瑞儀器算是國內**公司，分析儀器行業一家上市公司，并在**市場占有一席之地。今天的天瑞之所以有如此成就，與其自身的優勢密不可分。具有雄厚實力的研發團隊——有數名“三清”博士人才（三清——指學士、碩士、博士均在*大學**）；一授權具有“博士后工作站”；售后服務體系較完善，售后服務人員素質高；交貨周期較短；擁有完善的“7S”管理（規范內部管理）；**占有率較高，X熒光光譜儀銷售
手持式光譜儀原理
手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器，當能量**原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子從而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的狀態,當較外層的電子躍遷到空穴時,產生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發生俄歇效應,亦稱次級光電效應或*效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不被原
淺析鍍層測厚儀無法避免的測量誤差問題
1。測量對象引入的誤差測量對象引入的測量誤差主要包括以下幾方面：1、覆蓋層厚度的影響2、基體金屬磁性的影響3、基體金屬厚度的影響4、材料的邊緣效應的影響5、基體金屬機械加工方向的影響6、基體金屬剩磁的影響7、基體金屬曲率的影響8、基體金屬表面粗糙度的影響對上述因素產生的測量誤差分析如下：1、對于較薄的覆蓋層，由于受儀器本身測量精度和覆蓋層表面粗糙度的影響，較難準確測量覆蓋層厚度，尤其是當覆蓋層厚度