關(guān)于電源的問(wèn)題簡(jiǎn)述

時(shí)間：2021-05-10作者：東莞市成良智能科技有限公司瀏覽：109

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 開(kāi)關(guān)電源的負(fù)載測(cè)試

  1、開(kāi)關(guān)電源限流精度測(cè)試 開(kāi)關(guān)電源測(cè)試的說(shuō)明： 對(duì)于開(kāi)關(guān)電源無(wú)級(jí)限流模塊，可以通過(guò)監(jiān)控單元或者是后臺(tái)軟件來(lái)調(diào)整模塊的輸出限流點(diǎn)。限流調(diào)節(jié)的步長(zhǎng)以及精度請(qǐng)參考產(chǎn)品開(kāi)發(fā)規(guī)范或者是企業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)。 開(kāi)關(guān)電源測(cè)試的方法： 調(diào)節(jié)模塊輸入為額定輸入，模塊輸出電壓是浮充電壓，輸出負(fù)載是108%。模塊的限流點(diǎn)可以通過(guò)監(jiān)控測(cè)試軟件或者是監(jiān)控單元從開(kāi)關(guān)電源較大電流點(diǎn)開(kāi)始，按照開(kāi)關(guān)電源規(guī)范當(dāng)中規(guī)定的步長(zhǎng)進(jìn)行調(diào)整（如果規(guī)范中

• 關(guān)于開(kāi)關(guān)電源失效的原因

  現(xiàn)在隨著對(duì)于芯片的使用環(huán)境要求的愈加地苛刻，它在產(chǎn)品的生命周期中也面臨著很大的挑戰(zhàn)，但是在隨著制造尺寸的變小以及采取了新的封裝技術(shù)的時(shí)候，就又會(huì)產(chǎn)生一個(gè)新的影響，這也就直接地導(dǎo)致了開(kāi)關(guān)電源器件的性能研發(fā)的失敗。 隨著科學(xué)技術(shù)的日漸發(fā)展，尤其是電子技術(shù)快速的較新?lián)Q代，對(duì)于開(kāi)關(guān)電源等電子設(shè)備所用的元器件的質(zhì)量要求也是越來(lái)越高，而半導(dǎo)體器件的廣泛使用，它的壽命經(jīng)過(guò)了性能退化，較終導(dǎo)致了失效。 在現(xiàn)在有很

• 開(kāi)關(guān)電源之PCB設(shè)計(jì)

  我們的電子產(chǎn)品一般60%以上的可靠性方面的問(wèn)題都是出現(xiàn)在開(kāi)關(guān)電源電子線(xiàn)路板的PCB板設(shè)計(jì)上；工作以及性能較為良好的PCB板需要有關(guān)的理論以及實(shí)踐的經(jīng)驗(yàn)。 我們通過(guò)理論和實(shí)踐地結(jié)合；用測(cè)試地?cái)?shù)據(jù)檢驗(yàn)了我們的理論與實(shí)踐的差異點(diǎn)。 開(kāi)關(guān)電源主要通過(guò)以下的原理示意圖分享設(shè)計(jì)總體的原則 A.開(kāi)關(guān)電源拓?fù)渲麟娏骰亓髀窂降拿娣e是較小化；驅(qū)動(dòng)脈沖電流回路是較小化。 B.對(duì)于隔離開(kāi)關(guān)電源拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)來(lái)說(shuō)，電流回路被開(kāi)關(guān)

• 半導(dǎo)體的測(cè)試之開(kāi)關(guān)電源

  開(kāi)關(guān)電源，又被稱(chēng)之為交換式電源、開(kāi)關(guān)變換器，它是一種高頻化的電能轉(zhuǎn)換裝置，也是電源供應(yīng)器的一種。開(kāi)關(guān)電源利用的切換晶體管大多是處在全開(kāi)模式以及全閉模式之間一個(gè)切換，這兩個(gè)模式都具有低耗散的特點(diǎn)，切換之間的轉(zhuǎn)換則會(huì)有比較高的耗散，但是時(shí)間也很短。 開(kāi)關(guān)電源功率半導(dǎo)體器件應(yīng)力的測(cè)試 測(cè)試說(shuō)明： 開(kāi)關(guān)電源功率半導(dǎo)體器件主要是包括了：直流直流主功率晶體管、輸出整流二極管、功率因數(shù)校正主功率晶體管、功率因數(shù)