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詞條說明
1.影響硬件可靠性的因素(1)元件失效。元件失效有三種:一是元件本身的缺陷,如硅裂、漏氣等;二是加工過程、環(huán)境條件的變化加速了元件、組件的失效;三是工藝問題,如焊接不牢、篩選不嚴(yán)等。(2)設(shè)計不當(dāng)。在計算機(jī)控制系統(tǒng)中,許多元器件發(fā)生的故障并不是元件本身的問題,而是系統(tǒng)設(shè)計不合理或元器件使用不當(dāng)所造成。?在設(shè)計過程中,如何正確使用各種型號的元器件或集成電路,是提高硬件可靠性不可忽視的重要因
紫外老化試驗主要模擬陽光中的紫外光對產(chǎn)品產(chǎn)生的劣化效應(yīng)。同時它還可以再現(xiàn)雨水和露水所產(chǎn)生的破壞。通過將待測材料曝曬放在經(jīng)過控制的陽光和濕氣的交互循環(huán)中,同時提高溫度的方式來進(jìn)行試驗。采用紫外線熒光燈模擬陽光,同時還可以通過冷凝或噴淋的方式模擬濕氣影響。只需要幾天或幾周時間,紫外老化試驗可以再現(xiàn)戶外需要數(shù)月或數(shù)年所產(chǎn)生的破壞。所造成的損害主要包括褪色、變色、亮度下降、粉化、龜裂、變模糊、脆化、強(qiáng)度下
高分子UV除橡膠塑料產(chǎn)品外,老化試驗是一種常見的老化試驗UV老化、陽光輻射老化,還有溫度老化、加載老化等。UV老化試驗,又稱紫外線老化試驗,利用紫外線模似陽光,對材料進(jìn)行老化試驗。 ? ?UV它是指陽光下的紫外線。由于其光能等于聚合物化學(xué)鍵的鍵能,可導(dǎo)致聚合物化合物鏈斷裂,是聚合物材料老化降解的主要原因。紫外線老化試驗是指將聚合物材料老化試驗樣品放置在紫外線光場下,暴露,然后獲
方法特點和應(yīng)用范圍1)高壓泄漏檢測法? ? High-voltage leak detection這是一種確定性的泄漏測試方法。高壓電檢漏是基于定量的電導(dǎo)測試,要求容器內(nèi)灌裝的液體有一定的電導(dǎo)率,在待檢品上外加高壓電,泄漏點的存在導(dǎo)致樣品電阻的下降,從而導(dǎo)致電流的突躍,當(dāng)然這個電流應(yīng)該大于預(yù)先確認(rèn)的方法檢測閾值(通過/失敗判定的靈敏度)。?該方法的優(yōu)點:-?
公司名: 深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司
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