Asphericon高性能光學(xué)涂層與鍍膜

時(shí)間：2021-12-31作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：103

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 光束質(zhì)量的表達(dá)

  在激光的生產(chǎn)和使用過(guò)程中，不可避免的會(huì)涉及到光束質(zhì)量的檢測(cè)和表征，M2和BPP是表達(dá)深圳維爾克斯專業(yè)代理的激光光束質(zhì)量的兩個(gè)最常用的物理量。M2和BPP是基于相同的物理概念導(dǎo)出，所以他們兩者之間可以相互換算。光束質(zhì)量之所以重要是因?yàn)樗桥袛嗉す馄骱脡暮湍芊襁M(jìn)行激光精密加工的一個(gè)關(guān)鍵物理量，對(duì)于很多種單模輸出的激光器來(lái)說(shuō)，高品質(zhì)的激光器通常都具有很高的光束質(zhì)量，對(duì)應(yīng)很小的M2，例如1.05或1.1。

• asphericon非球面透鏡被用于恒星測(cè)位和熒光顯微鏡

  一、用于測(cè)定恒星位置的非球面透鏡1.使用非球面透鏡和非球面光學(xué)設(shè)計(jì)跟蹤恒星衛(wèi)星對(duì)于觀測(cè)地球、監(jiān)測(cè)氣候和導(dǎo)航至關(guān)重要。這些項(xiàng)目的一個(gè)重要成功因素是衛(wèi)星的自主定位。asphericon與位置傳感器開(kāi)發(fā)領(lǐng)域的供應(yīng)商Terma A/S一起參與了恒星跟蹤器光學(xué)系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)。由于恒星跟蹤器光學(xué)系統(tǒng)高質(zhì)量的鍍膜，可以承受具有挑戰(zhàn)性的空間條件，同時(shí)滿足苛刻的尺寸要求，并提供最準(zhǔn)確的結(jié)果。2.恒星跟蹤器衛(wèi)星技術(shù)在觀測(cè)

• StellarNet光譜儀化學(xué)吸光度測(cè)量的配置和軟件操作的簡(jiǎn)介

  用于化學(xué)應(yīng)用的光譜儀StellarNet微型光譜儀允許在紫外-可見(jiàn)-近紅外波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行低成本測(cè)量。這些儀器可以使用SpectraWiz套件測(cè)量物質(zhì)的吸收、發(fā)射、熒光、透射、濃度和顏色。StellarNet化學(xué)吸光度系統(tǒng)可以可靠地測(cè)量吸光度和濃度，并在食品和飲料、石化、制藥、原材料行業(yè)有應(yīng)用。基于StellarNet微型光譜儀的化學(xué)光譜測(cè)量系統(tǒng)，光譜儀配置還包括流通池、比色皿、探頭和探頭支架等。除

• optodiode探測(cè)器問(wèn)題指南

  optodiode探測(cè)器常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法如下：美國(guó)optodiode探測(cè)器響應(yīng)時(shí)間太長(zhǎng)（時(shí)間常數(shù)太慢），第一步是檢查源強(qiáng)度。如果光源的強(qiáng)度太高（超過(guò)1mW/cm2），探測(cè)器材料將加熱到改變探測(cè)器特性的點(diǎn)。這種變化迫使探測(cè)器比最初進(jìn)行測(cè)量所需的時(shí)間更長(zhǎng)，因?yàn)榛旧咸綔y(cè)器被重新敏化，這改變了探測(cè)器的光導(dǎo)特性。對(duì)探測(cè)器性能的影響程度取決于加熱/變化區(qū)域與整個(gè)探測(cè)器表面積的比率。optodiode探測(cè)器