X射線熒光光譜儀是什么？

時間：2022-05-12作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：440

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• 詞條

  詞條說明

• X射線熒光光譜儀的主要用途

  主要使用X射線束激發熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現在，該方法作為非破壞性分析技術，并作為過程控制的工具，廣泛應用于采掘和加工工業。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。主要用途儀器是較新型X射線熒光

• X射線熒光光譜儀的儀器類別及特點

  X射線熒光光譜儀一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數 12～92的所有元素，選擇性高，分析微量組分時受基體的影響小，在地質、采礦和冶金等部門應用很廣。X射線熒光光譜儀：儀器儀表、成份分析儀器、熒光光度計。?指標信息1、發射源是Rh靶X光管，最大電流125mA，電壓60kV，最大功率3kW。2、儀器在真空條件下工作，真空度<13pasca

• 手持XRF分析儀

  手持XRF分析儀是元素快速分析的好幫手，滿足合金，礦石，土壤重金屬，rohs，鍍層等各個領域的便攜測試分析，連接便攜藍牙打印設備，可以現場出具測試報告。手持XRF分析儀光譜儀應用領域優勢超大樣品測試當樣品體積太大，且不能切割取樣時，普通臺式儀器無法對其進行RoHS等有害元素的有效測試，此時手持XRF分析儀則可大顯神通，直接對其表面進行測試，使用更方便快捷，大大提高了檢測效率。玩具樣品測試玩其樣品多

• X熒光光譜鍍層測厚儀

  X熒光光譜鍍層測厚儀既滿足原有微小和復雜形態樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析,被廣泛應用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量。X熒光光譜鍍層測厚儀配置01 獨立的X/Y/Z軸控制系統02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護05 Fast-SDD探測器06 雙激光定位裝置07 標配可自動切換的準直