ZYGO Nexview? NX2 光學輪廓儀

時間：2024-07-26

作者：北京儀光科技有限公司

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ZYGO ZeGage Pro 3D光學輪廓儀
可直接用于生產的三維光學輪廓儀系統。ZeGage? Pro?和 ZeGage? Pro HR 三維光學輪廓儀可對多種類型表面的微米和納米級特征進行非接觸式測量和表征，實現制造環境中的質量控制和過程監控。我們行業的 ZeGage Pro 系列由于其的性能、易用性、靈活性和精度為臺式工業非接觸表面輪廓儀設立了行業標準。ZeGage Pro 在 ZYGO 專有 CSI 技術的基礎上，采用一系列
ZYGO Nexview? NX2 光學輪廓儀
Nexview? NX2 光學輪廓儀是為高應用需求設計的，集精密、算法、應用靈活性和自動化為一體，優異展現了ZYGO相干掃描干涉(CSI)技術的能力。Nexview? NX2 光學輪廓儀采用的是非接觸式測量技術，具有亞納米測量精度（所有放大倍數下），可以快好地測量各種樣品表面，是一款具有非常高率的產品。滿足各種應用需求，包括平面度，粗糙度和波紋度，薄膜，臺階高度，適用于幾乎任何材質表面，因此Nex
3D光學輪廓儀主要應用
測量動態MEMS設備?光學輪廓儀是確定MEMS設備表面特征的一種非常有用的工具。傳統意義上，光學輪廓儀被用來測量樣品的表面特性。但是，在測量過程中，所測量的樣品需保持在靜止的狀態下，如果樣品不穩定或者處于運動狀態則會引起圖像混亂模糊、數據不完整或者數據丟失等現象。然而，對于MEMS設備，需要確定該設備處于運動狀態時的形貌特征，了解和確定其在運動狀態下的功能和特征對研發和生產質量控制至關重
ZYGO NewView? 9000 光學輪廓儀
NewView? 9000 3D光學輪廓儀提供了強大、多功能的非接觸式光學表面分析。它可以簡單和快速地測量各種表面類型，包括光滑、粗糙、平坦、傾斜和階梯式的表面。所有的測量都是無損、快速、樣品制備的。ZYGO相干掃描干涉技術(CSI)是系統的技術，在所有放大倍數下實現亞納米的精度，并且能夠快速準確的測試各種樣品表面，為客戶提供高率的體驗。性能，和多樣性靈活性是ZYGO NewView產品的標志。N