優(yōu)爾鴻信檢測(cè) GC-MS如何檢測(cè)多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚？

時(shí)間：2025-05-30作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：87

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專注于高低溫測(cè)試,光老化測(cè)試,振動(dòng)沖擊測(cè)試,IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試,鹽霧腐蝕測(cè)試,HALT測(cè)試,sem+eds測(cè)試,清潔度測(cè)試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

• 詞條

  詞條說明

• 如何根據(jù)電子電氣產(chǎn)品的尺寸和重量來確定跌落試驗(yàn)的高度標(biāo)準(zhǔn)？

  在確定電子電氣產(chǎn)品跌落試驗(yàn)高度標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，尺寸和重量是兩個(gè)關(guān)鍵因素。首先考慮產(chǎn)品尺寸。對(duì)于較小尺寸的產(chǎn)品，例如小型手持電子設(shè)備，如智能手表、藍(lán)牙耳機(jī)等，其結(jié)構(gòu)相對(duì)緊湊。由于尺寸小，在跌落過程中空氣阻力對(duì)其影響較小，而且它們?cè)趯?shí)際使用場(chǎng)景中可能會(huì)從較高位置掉落，如從桌子、口袋等位置。因此，這類產(chǎn)品的跌落試驗(yàn)高度可以相對(duì)較高，一般可設(shè)置在 1 - 1.5 米左右。這樣的高度能夠較好地模擬用戶日常使用中產(chǎn)品

• 如何根據(jù)金屬材料的晶粒尺寸檢測(cè)結(jié)果評(píng)估材料的性能？

  強(qiáng)度和硬度評(píng)估一般來說，晶粒尺寸越小，金屬材料的強(qiáng)度和硬度越高。這是因?yàn)榧?xì)晶粒的晶界較多，晶界會(huì)阻礙位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)。位錯(cuò)是晶體中的一種缺陷，材料的塑性變形主要是通過位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)的。例如，在鋼鐵材料中，當(dāng)晶粒細(xì)化到一定程度，其屈服強(qiáng)度會(huì)顯著提高。根據(jù)霍爾 - 佩奇（Hall - Petch）公式，屈服強(qiáng)度與晶粒尺寸的平方根成反比。所以，通過檢測(cè)晶粒尺寸，可以初步推斷材料的強(qiáng)度和硬度是否符合要求。如果晶粒尺

• 清潔度檢測(cè)的意義及重要性

  清潔度測(cè)試是一種用于評(píng)估產(chǎn)品、設(shè)備或環(huán)境清潔程度的檢測(cè)方法。它主要關(guān)注污染物的存在和數(shù)量，以確保產(chǎn)品或設(shè)備的性能不受污染的影響。清潔度測(cè)試在許多行業(yè)都有應(yīng)用，如制造業(yè)、食品加工、醫(yī)療設(shè)備等。以下是關(guān)于清潔度測(cè)試的一些科普內(nèi)容：?1. 清潔度的重要性：污染物可能會(huì)對(duì)產(chǎn)品或設(shè)備的性能產(chǎn)生負(fù)面影響，導(dǎo)致故障、損壞或降低效率。因此，定期進(jìn)行清潔度測(cè)試是確保產(chǎn)品質(zhì)量和設(shè)備正常運(yùn)行的關(guān)鍵。 

• 不同工作頻率下通信設(shè)備的聲壓及聲功率變化規(guī)律是怎樣的？

  通信設(shè)備在不同工作頻率下，其聲壓及聲功率的變化規(guī)律較為復(fù)雜，主要呈現(xiàn)出以下特點(diǎn)：低頻段：聲壓方面：在低頻工作時(shí)，通信設(shè)備的振動(dòng)幅度相對(duì)較大，這會(huì)引起周圍空氣的較大壓強(qiáng)變化，從而導(dǎo)致聲壓相對(duì)較高。例如，一些通信設(shè)備的變壓器等部件，在低頻電流通過時(shí)會(huì)產(chǎn)生較為明顯的振動(dòng)，進(jìn)而產(chǎn)生較高的聲壓。并且，低頻聲音的傳播相對(duì)較容易，在空氣中的衰減相對(duì)較小，所以在一定距離內(nèi)能夠保持較高的聲壓水平。聲功率方面：低頻段