x-ray無損檢測

時間：2020-03-20作者：儀準科技（北京）有限公司瀏覽：135

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• 詞條

  詞條說明

• PCB失效分析方法

  PCB失效分析方法 該方法主要分為三個部分，將三個部分的方法融匯貫通，不僅能幫助我們在實際案例分析過程中能夠快速地解決失效問題，定位根因；還能根據我們建立的框架對新進工程師進行培訓，方便各部門借閱學習。 下面就分析思路及方法進行講解，首先是分析思路； 第一步：失效分析的“五大步驟” 失效分析的過程主要分為5個步驟：“①收集不良板信息→②失效現象確認→③失效原因分析→④失效根因驗證→⑤報告結論，改善

• 樣品失效分析具體操作

  1.1 失效和失效分析 產品喪失規定的功能稱為失效。判斷失效的模式，查找失效原因和機理，提出預防再失效的對策的技術活動和管理活動稱為失效分析。 1.2 失效和事故 失效與事故是緊密相關的兩個范疇，事故強調的是后果，即造成的損失和危害，而失效強調的是機械產品本身的功能狀態。失效和事故常常有一定的因果關系，但兩者沒有必然的聯系。 1.3 失效和可靠 失效是可靠的反義詞。機電產品的可靠度R(t）是指時間

• 半導體微信交流群

  半導體微信交流群 2020年的開端，空氣中彌漫著新型冠狀病毒的氣息，提醒大家勤洗手多消毒加防護，相對于各式各樣的口罩，宅在家里不動無疑較安全。人在家心卻在江湖，工作還是不能拉下的，小編貼心的為大家整理了半導體微信群，方便大家交流。讓有限的資源發揮應有的**，每人限申請一個，請備注清楚申請哪個群。資源有限，已經申請過的請不要重復申請，把有限的名額留給較需要的人。請遵紀守法，文明用語，發垃圾信息一律請

• 聚焦離子束FIB

  聚焦離子束，Focused Ion beam 服務介紹：FIB（聚焦離子束，Focused Ion beam）是將液態金屬離子源產生的離子束經過離子槍加速，聚焦后照射于樣品表面產生二次電子信號**電子像，此功能與SEM（掃描電子顯微鏡）相似，或用強電流離子束對表面原子進行剝離，以完成微、納米級表面形貌加工。 服務范圍：工業和理論材料研究，半導體，數據存儲，自然資源等領域 服務內容：1.芯片電路修改