詞條
詞條說(shuō)明
實(shí)驗(yàn)室覆冰效果測(cè)試方法? ? 防覆冰導(dǎo)線測(cè)試方法???? 實(shí)驗(yàn)一:在冰箱里擱置一長(zhǎng)方形盛滿水的容器,將涂裝好的導(dǎo)線放置在托盤(pán)上方,如圖示。 為了近可能地模擬室外實(shí)際情況,尤其是過(guò)冷卻水存在的情況,定期用噴霧器噴0 ℃左右霧狀冰水在導(dǎo)線表面上。在 - 20 ℃環(huán)境下, 實(shí)驗(yàn)時(shí)間為 12 h 。 ???經(jīng) 12
半導(dǎo)體芯片在進(jìn)行高低溫測(cè)試時(shí)的注意事項(xiàng)
半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學(xué)材料等材料行業(yè)經(jīng)常能用到的測(cè)試,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料。在經(jīng)過(guò)高溫及較低溫的連續(xù)變化環(huán)境試驗(yàn)我們可以檢測(cè)出半導(dǎo)體芯片忍受較端溫度變化的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理?yè)p傷。在做半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試需要特別注意,在使用的過(guò)程中不能輕易打開(kāi)半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試箱,主要原因如下:1.做半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試時(shí)需要用
1.高溫:?將薄膜鍵盤(pán)放置在恒溫恒濕試驗(yàn)箱中,試驗(yàn)箱溫度調(diào)節(jié)為55℃±2℃,持續(xù)保溫時(shí)間72 h,試驗(yàn)過(guò)程中不通電,不做功能試驗(yàn)。試驗(yàn)后在一般大氣條件下恢復(fù)2 h,進(jìn)行檢測(cè),外觀質(zhì)量、絕緣電阻、耐壓值的結(jié)果應(yīng)符合要求。?2.低溫:?將薄膜鍵盤(pán)放置在恒溫恒濕試驗(yàn)箱中﹐試驗(yàn)箱溫度為-40℃±3℃,持續(xù)保溫時(shí)間72 h,試驗(yàn)過(guò)程中不通電,不做功能試驗(yàn)。試驗(yàn)后在一般大氣條件下
光模塊的使用溫度分為三種:商用級(jí)溫度、擴(kuò)展級(jí)溫度、工業(yè)級(jí)溫度,而在實(shí)際的使用中是分為商用級(jí)溫度和工業(yè)級(jí)溫度兩大類,它們有以下區(qū)別:一、工作溫度:-40℃至85℃光模塊的工作溫度一般為-40℃至85℃之間,分為商業(yè)級(jí)和工業(yè)級(jí)范圍1商溫范圍為0℃至70℃,工溫范圍為-40℃至85℃,屬于商業(yè)級(jí)范圍,室溫為25℃時(shí),光模塊自身發(fā)熱25℃都屬于正常溫度。因此,光模塊的工作溫度范圍為-40℃至85℃。二、工
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