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手持式光譜儀在使用的時(shí)候,對于環(huán)境是有一定的要求,不要在潮濕的環(huán)境下工作的,環(huán)境濕度0-95%之間為較好,不能在太高溫下操作工作,這樣的理由是避免各類磁場的干擾,如此儀器分析的時(shí)候才能檢測出較精確的精度。所以,大家在工作的時(shí)候要注意環(huán)境的適合度,很多時(shí)候儀器檢測不標(biāo)準(zhǔn)跟環(huán)境還是有很大程度上的關(guān)系。一、手持式光譜儀對于操作人員也是要一定要求的,測試樣品**定要請儀器廠商的技術(shù)人員現(xiàn)場演示,并且對技術(shù)
● 1.熒光X射線微小面積鍍層厚度測量儀的特征*可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。*可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。*薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置,可同時(shí)對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量。此外,適用于無鉛焊錫的應(yīng)用。*備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。(SII**)● 2.測量原理如圖1所示,
原理:X射線熒光X射線存在于電磁波譜中的一個(gè)特定區(qū)域,它由原子內(nèi)部電子躍遷產(chǎn)生,其波長范圍在0.1-100?;能量大于100電子伏特.X射線熒光是一個(gè)原子或分子吸收了特定能量的光子后釋放出較低能量的光子的過程。X ray fluorescence物質(zhì)受原級X射線或其他光子源照射,受激產(chǎn)生次級X射線的現(xiàn)象。它只包含特征X射線,沒有連續(xù)X射線。分別以原級、一級、二級X射線激發(fā),可產(chǎn)生一級、二級、三級X
一. 磁吸力測量原理及測厚儀*磁鐵(測頭)與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系,這個(gè)距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測厚儀,只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大,就可進(jìn)行測量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性測厚儀應(yīng)用較廣。測厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼,接力簧,標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測物吸合后,將測量簧在其后逐漸拉長,拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸
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