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詞條說明
失效分析(FA)是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從**向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進(jìn),產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。其方法分為有損分析,無損分析,物理分析,化學(xué)分析等失效分析的意義:分析機(jī)械零器件失效原因,為事故責(zé)任認(rèn)定、偵破刑事犯罪案件、裁定賠償責(zé)任、保險(xiǎn)業(yè)務(wù)、
失效分析流程各種材料失效分析方法1 PCB/PCBA失效分析PCB作為各種元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的較為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。失效模式爆板、分層、短路、起泡,焊接不良,腐蝕遷移等。常用手段無損:外觀檢查,X射線透視,三維CT,C-SAM,紅外熱成像表面元素分析:掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)顯微
無損是工業(yè)發(fā)展**的有效工具。?無損是指在不損害或不影響被對(duì)象使用性能,不傷害被對(duì)象內(nèi)部組織的前提下,利用材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)異常或缺陷存在引起的熱、聲、光、電、磁等反應(yīng)的變化,以物理或化學(xué)方法為手段,借助現(xiàn)代化的技術(shù)和設(shè)備器材,對(duì)試件內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)及缺陷的類型、性質(zhì)、數(shù)量、形狀、位置、尺寸、分布及其變化進(jìn)行檢查和測(cè)試的方法。?主要有射線檢驗(yàn)(RT)、
以IGBT、MOSFET為主導(dǎo)的機(jī)械電子器件通常具備十分普遍的運(yùn)用,但普遍的應(yīng)用領(lǐng)域也代表著很有可能會(huì)發(fā)生各式各樣讓人煩惱的無效狀況,從而造成工業(yè)設(shè)備產(chǎn)生常見故障!因而,恰當(dāng)分析機(jī)械電子器件的無效狀況,針對(duì)提升機(jī)械電子器件的運(yùn)用穩(wěn)定性看起來至關(guān)重要。一、無效分析介紹無效分析的全過程一般就是指依據(jù)失效模式和狀況,根據(jù)分析和認(rèn)證,仿真模擬再現(xiàn)無效的狀況,找到無效的緣故,發(fā)掘出無效的基本原理的全過程。器
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