rohs檢測儀有哪些技術(shù)指標

時間：2022-05-12作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：601

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• 詞條

  詞條說明

• X射線熒光光譜儀的儀器類別及特點

  X射線熒光光譜儀一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數(shù) 12～92的所有元素，選擇性高，分析微量組分時受基體的影響小，在地質(zhì)、采礦和冶金等部門應用很廣。X射線熒光光譜儀：儀器儀表、成份分析儀器、熒光光度計。?指標信息1、發(fā)射源是Rh靶X光管，最大電流125mA，電壓60kV，最大功率3kW。2、儀器在真空條件下工作，真空度<13pasca

• X射線熒光光譜儀的主要用途

  主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現(xiàn)在，該方法作為非破壞性分析技術(shù)，并作為過程控制的工具，廣泛應用于采掘和加工工業(yè)。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產(chǎn)量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。主要用途儀器是較新型X射線熒光

• X射線熒光光譜儀是什么？

  X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學，法醫(yī)學，考古學和藝術(shù)品，例如油畫和壁畫。 一種射線式

• X熒光光譜鍍層測厚儀

  X熒光光譜鍍層測厚儀既滿足原有微小和復雜形態(tài)樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析,被廣泛應用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量。X熒光光譜鍍層測厚儀配置01 獨立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護05 Fast-SDD探測器06 雙激光定位裝置07 標配可自動切換的準直