詞條
詞條說明
在激光加工領域中,普遍需要得到能量均勻分布的正方形的勻化光斑。針對這一類激光勻化需求,我司推出過雙微透鏡陣列的勻化方案。該方案使用的是兩片子單元為正方形的微透鏡陣列,該方案中的光路調試過程中,兩片微透鏡陣列的子單元要求對準,對調試的精度要求稍微偏高。現我司推出使用兩片柱面微透鏡得到正方形勻化光斑的方案,降低了對調試的精度要求。本文針對后者勻化方案作了簡要介紹。常見的雙微透鏡勻化光路,如下圖所示:激
機器視覺制造商廣泛使用紅綠藍(RGB)相機來識別物體,這些相機適用于根據物體的形狀和顏色來表征物體。然而,由于只有三個可見波段可用,它們的識別能力十分有限。而高光譜技術可用于要求更高的應用,通過在寬光譜帶通上記錄數百個波段來測量物體或場景。這些波段是連續的,不僅限于光譜的可見光部分。每種材料都有其獨特的成分,因此會對電磁波譜產生獨特的反應,高光譜成像(HSI)為用戶提供大量信息,允許根據其化學成分
平頂光束是什么?光束成型器如何產生平頂光束平頂光束的特點是具有均勻的聚焦強度分布,具有明確的形狀和大小,并且邊緣鋒利。在這篇文章中,你將學習如何用你的激光束獲得這樣的照明曲線。平頂光束的介紹當提到包括激光束在內的光學系統時,平頂光束描述了激光束在沿光路穿過某種介質后的能量分布。平頂能量可以直接產生在工作面上,也可以產生在系統內的其他部件上。一個典型的激光束,在離開激光源時,會有一個高斯分布,最大能
optodiode探測器常見問題及解決方法如下:美國optodiode探測器響應時間太長(時間常數太慢),第一步是檢查源強度。如果光源的強度太高(超過1mW/cm2),探測器材料將加熱到改變探測器特性的點。這種變化迫使探測器比最初進行測量所需的時間更長,因為基本上探測器被重新敏化,這改變了探測器的光導特性。對探測器性能的影響程度取決于加熱/變化區域與整個探測器表面積的比率。optodiode探測器
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
聯系人: 劉先生
電 話: 0755-84870203
手 機: 18926463275
微 信: 18926463275
地 址: 廣東深圳龍崗區龍崗區平湖街道華南城1號館
郵 編: